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非損傷微測技術(shù)研究單離子通道產(chǎn)生的細(xì)胞外離子梯度

瀏覽次數(shù):2865 發(fā)布日期:2009-1-14  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
單離子通道事件導(dǎo)致的胞外離子濃度梯度的變化是一個比較重要但也比較困難的研究領(lǐng)域。Mark A. Messerli等[1]以爪蟾卵母細(xì)胞為研究對象,使用非損傷微測技術(shù)測量不同mSlo通道(Ca2+ 激活型K+ 通道)事件對胞外K+ 濃度梯度的影響,并與數(shù)學(xué)模型相結(jié)合比較分析。
在mSlo通道過表達(dá)的卵母細(xì)胞中,實(shí)測數(shù)據(jù)與數(shù)學(xué)模型變化趨勢一致,但實(shí)測數(shù)據(jù)中存在模型預(yù)測不到的相對快速和短暫的K+ 濃度變化。而在注水稀釋mSlo RNA以獲得較低通道密度的卵母細(xì)胞中,檢測了三個獨(dú)立的單通道事件,實(shí)測數(shù)據(jù)和數(shù)學(xué)模型可以非常好的擬合。這充分說明了非損傷微測技術(shù)測量單離子通道事件的可靠性,也改變了只有檢測技術(shù)的響應(yīng)時間與離子通道開放時間非常接近時才能測量單通道事件的傳統(tǒng)觀念。

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[1]Messerli MA, Corson ED, Smith PJ. Measuring extracellular ion gradients from single channels with ion-selective microelectrodes. Biophys J,2007,92(7):L52-54.
來源:旭月(北京)科技有限公司
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