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DVM6M用于地質(zhì)科學(xué)

瀏覽次數(shù):630 發(fā)布日期:2016-11-19  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

見微知著,洞見未來

 

地球科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域

 

如何運(yùn)用一臺(tái)數(shù)碼顯微鏡分析經(jīng)過或未經(jīng)過制備的地質(zhì)樣品

 

Leica DVM6 M 案例研究

 

作者:

 

Michael Doppler

瑞士徠卡顯微系統(tǒng)·應(yīng)用顯微鏡·EEMEA·銷售經(jīng)理

 

介紹

 

一百年前,偏振光顯微鏡就已經(jīng)應(yīng)用于傳統(tǒng)的地球科學(xué)研究之中了。從那時(shí)起,隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,這類顯微鏡在用戶友好性、人體工程學(xué)以及光學(xué)性能方面逐漸改善。時(shí)至今日,仍有一方面在原地踏步:傳統(tǒng)的偏振光(復(fù)式)顯微鏡僅適用于經(jīng)過制備的樣品,因?yàn)檫@類顯微鏡提供的工作距離不足以滿足整個(gè)樣品的檢測。

 

 

這就意味著必須切割和拋光較厚、較大的地質(zhì)樣品,以適應(yīng)復(fù)式顯微鏡的有限工作距離。這些樣品制備對(duì)精確度的要求極高,而在拋光片的厚度、平整度和拋光效果方面,對(duì)精確度的要求則更甚。運(yùn)用帶透射、偏振光 [1,2] 的復(fù)式顯微鏡進(jìn)行檢測時(shí),標(biāo)準(zhǔn)厚度應(yīng)為 30 微米。

 

 

換言之,科學(xué)家檢測未經(jīng)制備的樣品時(shí),需要切換成工作距離較大的體視顯微鏡。

 

 

 

一臺(tái)適用于經(jīng)過或未經(jīng)過制備樣品檢測的顯微鏡

 

 

本文闡述了地質(zhì)科學(xué)家如何運(yùn)用一臺(tái)偏振光顯微鏡對(duì)經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進(jìn)行分析的:這就是Leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡。選用適當(dāng)?shù)呐浼,該顯微鏡即可化身為半定量型偏振顯微鏡。

 

 

 

地質(zhì)樣品的多樣性需要一系列合格的顯微鏡解決方案:

 

 

薄切片     拋光片

 

 

微體化石        礦物顆粒

 

 

巖樣                 巖心           顯微載片         化石


 

適用于復(fù)式顯微鏡的樣品范圍

 

 

 

 

適用于體視顯微鏡的樣品范圍


 

 

適用于Leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡檢測的樣品范圍

 

適用于所有地質(zhì)檢測項(xiàng)目

 

 

運(yùn)用適配器將Leica DVM 6 M 安裝在手動(dòng)或電動(dòng)調(diào)焦柱上,即可獲得額外工作距離,確保地質(zhì)學(xué)家能夠?qū)伖饣蛭磼伖獾臉悠愤M(jìn)行檢測觀察。具備高數(shù)值孔徑的透射光座,提供了適用于多樣化偏振光應(yīng)用領(lǐng)域的數(shù)碼解決方案。

 

 

為透射光座配備一個(gè)偏振載物臺(tái),上面帶一個(gè)旋入/旋出偏光鏡。按照上述方法設(shè)置Leica DVM6 M,確保顯微鏡適用于任何地質(zhì)科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域,并保證用戶能夠分別觀察平行和交叉偏振光下的透明樣品。樣品是否配有蓋玻片或樣品是否系未切削的透明礦物質(zhì)(例如,鉆石或指示礦物),這些并不重要。

 

 

 

 

Leica DVM6 M 能夠提高地質(zhì)科學(xué)家的工作效率,歸因于以下優(yōu)勢:

 

 

  • 運(yùn)用一臺(tái)儀器即可對(duì)經(jīng)過或未經(jīng)過制備的樣品進(jìn)行靈活處理;
  • 全面集成環(huán)形光,外加同軸和其他照明類型,確保研究和分析樣品的選項(xiàng)超過復(fù)式顯微鏡;
  • 高效、快速實(shí)現(xiàn)整個(gè)范圍內(nèi)的放大倍率切換;
  • 軟件界面直觀,適用于顯微鏡操作和分析;
  • 擁有對(duì)重要參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)追蹤和存儲(chǔ)(編碼)的功能。

 

 

有關(guān)Leica DVM6 數(shù)碼顯微鏡的更多詳情,請(qǐng)參見Leica DVM6 產(chǎn)品頁面 [3]。


 

 

分析經(jīng)過制備的樣品

 

 

下面選取玄武巖薄片為例。采用不同方向的偏振光照明,可以展示玄武巖的結(jié)構(gòu)和組成。

 

 

1:運(yùn)用平行偏振光獲取的玄武巖薄片圖像。                                 2:運(yùn)用交叉偏振光獲取的相同樣品圖像。

 

 

如果單幅圖像顯示樣品的感興趣區(qū)域比顯微鏡的視場大,則研究人員可以運(yùn)用顯微鏡軟件中的 Live Image Builder(實(shí)時(shí)圖像生成器)功能。在載物臺(tái)掃描階段,該項(xiàng)功能可以通過照相機(jī)記錄的合成圖像來創(chuàng)建單幅圖像,保證用戶能夠更大范圍地查看樣品。

 

 

3上圖系玄武巖薄片的概覽大圖。


 

 

針對(duì)反光,可以采用內(nèi)置同軸照明方式觀察拋光樣品,無需附加部件。在反射光模式下,調(diào)節(jié)內(nèi)置 ¼ λ片(波板),即可完成偏振光交叉。

 

 

 

4:運(yùn)用平行偏振反射光觀察礦石礦物。                                  5:運(yùn)用交叉偏振反射光觀察同一樣品。

 

 

Leica DVM6 M 同軸照明模式配備傾斜照明滑塊,提供晶界、硬度差和劃痕的三維圖像。只需簡單地四處移動(dòng)照明滑塊,即可從該角度觀察樣品。無需其他操作。

 

 

右圖顯示僅配備集成環(huán)形光的Leica DVM6 M 才適用于該領(lǐng)域。雖然傳統(tǒng)偏振光顯微鏡不帶暗場,但配備環(huán)形光的Leica DVM6 M 卻為拋光樣品提供了額外的暗場角度。

 

 圖 6:運(yùn)用平行偏振傾斜反射光照明獲取的同一樣品細(xì)節(jié)圖像,用于查看硬度差和劃痕。

 

圖 7:運(yùn)用環(huán)形光照明獲取的同一樣品細(xì)節(jié)圖像。


 

 

 

分析未經(jīng)過制備的樣品

 

 

除這些觀察地球科學(xué)樣品的“經(jīng)典”方法之外,用戶還可以運(yùn)用Leica DVM6 M 觀察未經(jīng)過制備樣品的三維圖像,例如,顯微載片、巖心部分、散礦物質(zhì)、微體化石等。由于體視顯微鏡的內(nèi)置部分環(huán)形光設(shè)置或鵝頸管聚光燈,因此,可以運(yùn)用與體視顯微鏡相似的方式,觀察未經(jīng)過制備的樣品。

 

對(duì)于厚度超過顯微鏡景深的樣品,可以采用多聚焦功能輕松對(duì)其進(jìn)行觀察。隨后,可以重建樣品的三維形貌圖。另外,如果僅需二維圖像,則可以啟用 Live Image Builder 功能。

 

顯微載片樣品通常需要擴(kuò)展景深,令所有細(xì)節(jié)更加明晰。Leica DVM6 M 軟件具備 Live Image Builder Z(配備手動(dòng)調(diào)焦柱)和蒙太奇選項(xiàng)(自定義、EDOF、啟動(dòng)),為其獲取多焦點(diǎn)圖像提供了一種非常簡單的方式 [3]。

 

 

8:運(yùn)用環(huán)形光照明獲取的顯微載片樣品細(xì)節(jié)圖像。                   9:運(yùn)用環(huán)形光照明獲取的顯微載片樣品多焦點(diǎn)圖像。

 

 

10:運(yùn)用透射偏振光照明獲取的尚未打磨鉆石的多焦點(diǎn)圖像。

 

 

松面樣品、巖石樣品和巖心通常比顯微鏡提供的視場要大,而配備 Live Image Builder XY,則可以克服該限制,并將多幅圖像合成視場較大的單幅圖像。

 

 

leica DVM6 M 三個(gè)可用物鏡擁有廣泛的放大倍率(1x ~ 2,350x)和分辨率,保證用戶能夠快速實(shí)現(xiàn)較大樣品從宏觀到微觀圖像之間的切換。

 

 

由于所有圖像都是自動(dòng)校準(zhǔn)的,這些圖像都可以用于測量。在三維形貌重建中,可以測量表面特性和體積。

 

 

11:通過長度和表面測量,獲取黃金和重礦物的多焦點(diǎn)圖像。

 

 

 

結(jié)論

 

 

本文展示了在地質(zhì)科學(xué)研究領(lǐng)域,使用一臺(tái)顯微鏡分析經(jīng)過或未經(jīng)過制備樣品的可能性。leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡將宏觀與微觀合二為一,保證用戶既可分析二維也可分析三維樣品。由于視場和景深可以同時(shí)增加,因而可以輕松操作不同高度的樣品。Leica DVM6 M 通用照明方式為研究和分析樣品,提供了比復(fù)式顯微鏡更多的選項(xiàng)。


 

 

 

 

 

 

 

補(bǔ)充閱讀材料

 

 

  1. Interference, Glossary, Rock Library, Imperial College London

3.

C. Gladstone, P. Browning, The Polarising Microscope, Minerals under the Microscope, Earth Sciences, University of Bristol

 

  1. Leica DVM6 產(chǎn)品頁面,技術(shù)規(guī)范,徠卡顯微系統(tǒng)網(wǎng)頁

 Leica Microsystems (Switzerland) Ltd. · Max-Schmidheiny-Strasse 201 · 9435 Heerbrugg, Switzerland 電話:+41 71 726 34 34 · 傳真:+41 71 726 34 44

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